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MikroMasch
原子力顯微鏡(AFM)探針
掃描探針顯微鏡(SPM)探針
Porous Aluminium 多孔鋁
HOPG 高定向熱解石墨
Test Structure
(Valid from 18 April 2011. Subject to change without notice)
| Description
| Part Number
| Shipping unit
| Price, EUR |
High Resolution
1
| Hi'RES-C Probes, 1 lever
| HI'RES-C/14/AlBS HI'RES-C/15/AlBS
HI'RES-C/16/AlBS HI'RES-C/17/AlBS HI'RES-C/18/AlBS
HI'RES-C/19/AlBS
| 5 chips
| 400
|
15 chips
| 900 |
1'
| Hi'RES-W Probes, 1 lever
| HI'RES-W/14/AlBS HI'RES-W/15/AlBS
HI'RES-W/16/AlBS HI'RES-W/18/AlBS
| 5 chips
| 400
|
15 chips
| 900 |
Conductive Probes
2
| DPER Probes High Resolution in
Electrical Measurements
| DPER14 DPER15 DPER16 DPER17
DPER18
| 15 chips
| 450
|
50 chips
| 1150
|
3
| DPE Probes Low Noise in
Electrical Measurements
| DPE14 DPE15 DPE16 DPE17 DPE18
| 15 chips
| 450
|
50 chips
| 1150
|
4
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/Pt/no Al NSC15/Pt/no Al
NSC16/Pt/no Al CSC17/Pt/no Al NSC18/Pt/no Al NSC19/Pt/no Al
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900
|
5
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Pt/AlBS NSC21/Pt/AlBS
CSC11/Pt/AlBS CSC21/Pt/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
6
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Pt/no Al NSC21/Pt/no Al
CSC11/Pt/no Al CSC21/Pt/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
7
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC35/Pt/AlBS NSC36/Pt/AlBS
CSC37/Pt/AlBS CSC38/Pt/AlBS
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900
|
8
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC35/Pt/no Al NSC36/Pt/no Al
CSC37/Pt/no Al CSC381/Pt/no Al
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900
|
9
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1 lever
| NSC14/Cr-Au NSC15/Cr-Au NSC16/Cr-Au
CSC17/Cr-Au NSC18/Cr-Au NSC19/Cr-Au
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900
|
10
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Cr-Au NSC21/Cr-Au CSC11/Cr-Au
CSC21/Cr-Au
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
11
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/Cr-Au NSC36/Cr-Au CSC37/Cr-Au
CSC38/Cr-Au
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900 |
Magnetic Probes
12
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1 lever
| NSC14/Co-Cr NSC18/Co-Cr NSC19/Co-Cr
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
13
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/Co-Cr NSC36/Co-Cr
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000 |
Standard silicon Probes
14
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/AlBS NSC15/AlBS NSC16/AlBS
CSC17/AlBS NSC18/AlBS NSC19/AlBS
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 850
|
15
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/no Al NSC15/no Al NSC16/no Al
CSC17/no Al NSC18/no Al NSC19/no Al
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 850
|
16
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/AlBS NSC21/AlBS CSC11/AlBS
CSC21/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
17
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/no Al NSC21/no Al CSC11/no Al
CSC21/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
18
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/AlBS NSC36/AlBS CSC37/AlBS
CSC38/AlBS
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 850
|
19
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/no Al NSC36/no Al CSC37/no Al
CSC38/no Al
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 850 |
Silicon probes, Force Constant calibrated Cantilevers
20
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1 lever
| NSC14/F/AlBS NSC15/F/AlBS NSC16/F/AlBS CSC17/F/AlBS
NSC18/F/AlBS NSC19/F/AlBS
| 5 chips
| 200 |
Long Scanning
21
| LS Probes, 1 lever
| DP14/LS/AlBS DP15/LS/AlBS DP16/LS/AlBS
DP17/LS/AlBS DP18/LS/AlBS DP19/LS/AlBS
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 900 |
Standard silicon Probes with Si3N4 coating
22
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/Si3N4/AlBS NSC15/Si3N4/AlBS
NSC16/Si3N4/AlBS CSC17/Si3N4/AlBS NSC18/Si3N4/AlBS
NSC19/Si3N4/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
23
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/Si3N4/no Al NSC15/Si3N4/no Al
NSC16/Si3N4/no Al CSC17/Si3N4/no Al NSC18/Si3N4/no Al
NSC19/Si3N4/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
24
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Si3N4/AlBS NSC21/Si3N4/AlBS
CSC11/Si3N4/AlBS CSC21/Si3N4/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
25
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Si3N4/no Al NSC21/Si3N4/no Al
CSC11/Si3N4/no Al CSC21/Si3N4/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
26
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/Si3N4/AlBS NSC36/Si3N4/AlBS
CSC37/si3N4/AlBS CSC38/Si3N4/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
27
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/si3N4/no Al NSC36/Si3N4/no Al
CSC37/Si3N4/no Al CSC38/Si3N4/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000 |
Torsional cantilever
28
| TL Probes, 1 lever
| TL01/AlBS TL02/AlBS
| 5 chips 15 chips 50 chips
| 225 600 1700
|
TL01/no Al TL02/no Al
| 5 chips 15 chips 50 chips
| 225 600 1700 |
Tipless cantilever
29
| NSC/CSC Probes Silicon
Tip, 1 lever
| NSC12/tipless/AlBS CSC12/tipless/AlBS
| 15 chips 50 chips
| 300 850
|
NSC12/tipless/no Al CSC12/tipless/no Al
| 15 chips 50 chips
| 300 850
|
NSC12/tipless/Cr-Au CSC12/tipless/Cr-Au
| 15 chips 50 chips
| 360 900 |
Porous Aluminium
30
| Porous Aluminium
| PA01
| 1
| 200 |
HOPG
31
| HOPG mosaic spread 3.5 +/- 0,5
| ZYH + DS/1 mm ZYH + DS/1,75 mm ZYH + DS/2 mm
| 5
| 240 330 360
|
32
| HOPG mosaic spread 1.5 +/- 0,3
| ZYD + SS/1 mm ZYD + SS/1,5 mm ZYD + SS/2 mm ZYD + DS/1
mm ZYD + DS/2 mm
| 3
| 144 180 216 276 420
|
33
| HOPG mosaic spread 0.8 +/- 0,2
| ZYB + SS/1,5 mm ZYB + DS/1 mm ZYB + DS/2 mm
| 1
| 100 120 240
|
34
| HOPG mosaic spread 0.4 +/- 0,1
| ZYA + DS/1 mm ZYA + DS/2 mm
| 1
| 468 700 |
Test Structure
35
| TGZ Vertical Calibration
| TGZ01 TGZ02 TGZ03 TGZ04 TGZ11
| 1
| 100
|
36
| TGZ NIST traceable
| TGZ01C TGZ02C TGZ03C
| 1
| 250
|
37
| TGX Lateral Calibration
| TGX01 TGX11
| 1
| 200
|
38
| TGG Grating with Triangular Steps
| TGG01
| 1
| 200
|
39
| TGF Grating with Trapezoidal Steps
| TGF11
| 1
| 200 |
Test Structure Sets
40
| TGS01 Set of 3 gratings
| TGZ01 TGZ02 TGZ03
| 1
| 200
|
41
| TGS01C Set of 3 gratings NIST traceable
| TGZ01C TGZ02C TGZ03C
| 1
| 650
|
42
| TGS02 Set of 6 gratings
| TGZ01 TGZ02 TGZ03 TGG01 TGX01 PA01
| 1
| 500
|
43
| TS02C Set of 6 gratings, 3 gratings
NIST traceable
| TGZ01 TGZ02 TGZ03 TGG01 TGX01 PA01
| 1
| 950
|
44
| TGS03 Set of 3 gratings
| TGG01 TGX01 PA01
| 1
| 400 |
您可以訪問MikroMasch公司網站了解更多: www.spmtips.com
高定向熱解石墨(HOPG)
介紹
HOPG是一種新型高純度碳,為顯微分析人員提供了一種可重復使用的平滑表面。與云母不同的是,HOPG完全無極性適用于元素分析,并且分析信號中僅有碳原子背景信號。HOPG優良的表面光滑性使其可以作為空白背景,除非分辨率達到原子級水平。在HOPG發現之初,其被稱為“初生石墨”。請不要將SPI Supplies的HOPG和玻璃態碳相混淆。
特性:
薄層狀結構
Gr普通石墨和特殊HOPG均系薄層狀結構,就像云母、二硫化鉬及其他分層物質一樣,由平的堆積層組成。所有這些薄層狀的物質,其平面比層與層之間承受更大的力量,這也說明了這樣的物質容易劈開的特征。
開裂特性- HOPG具有層狀結構,會像云母一樣開裂。通常的方法是先用一條膠帶(如3M “Scotch Brand”雙面膠)粘在HOPG的表面上,然后將其撕下,膠帶上就會粘有一層薄薄的HOPG。新裂表層可以用作樣本基底材料。那么每個樣本上會有多少裂片呢?這很難講清楚。對于好的HOPG(如SPI-1或ZYA),每2mm厚的區域中大概含有20到40個裂片。我們無法保證裂片的確切數量,但如果您愿意與我們分享您寶貴的工作經驗,我們會席耳恭聽的。HOPG的等級越低,每2mm厚的區域中裂片數量就越少,但具體有多少我們也無法準確預測出。
基面圖像-用原子級分辨率的掃描隧道顯微鏡拍攝HOPG的結構圖像,會得到兩種圖像。通常觀測到的是一個緊密排列矩陣的圖像;在此矩陣中,每個原子被六個相鄰原子包圍,任意兩個原子間距為0.246nm。在理想條件下,特別是探針頭真正為單原子時,您將看到石墨的六邊形“鐵絲網”結構;其中,原子的中心間距為0.1415nm。這個距離是碳原子的基本屬性,與石墨等級無關。多數情況下對HOPG的基面進行觀察時,圖像就是此種緊密排列的矩陣。
用作石墨單色器:據報告,SPI Supplies提供的HOPG(尤其是SPI-1和ZYA級的)比任何其它物質都能更有效地進行X射線和中子的衍射。例如對X射線來說,使用HOPG其強度是使用氟化鋰晶體的5倍。使用好的HOPG的單偏轉聚焦單色器,產生的馬賽克擴散小,其亮度是同分辨率氟化鋰單色器的3倍。
平整度/粗糙度- HOPG具有多晶結構,其尺寸大小不一。好的HOPG,其晶體可達10mm。新裂表層由多大幾個至十幾個的0.2-0.3nm的原子梯級組成。HOPG質量越好,表面粗糙度越小,新裂表層原子梯級數越少。
馬賽克擴散- 此項指標用于衡量HOPG的定向度。馬賽克擴散越小,HOPG定向度越高,從而裂片表面呈現的梯級越少。馬賽克擴散越低,HOPG價格越高,但其可分裂性越好,產生的裂片相應越多,這在某種程度上提高了材料的性價比。
柱狀結構:
柱狀結構在材料平板內部呈垂直分布,在側表面可以看到顆粒邊界。換言之,馬賽克擴散沿顆粒邊界偏離柱狀結構正交軸的角度進行。
高溫中使用
越來越多的科研領域需要使用HOPG,越來越多的場合需要良好的耐高溫特性。以下信息可能會對您有所幫助:
- 空氣中: > 500°C/932°F (開始燃燒)
- 0.1托真空中: > 2500°C/4532°F
- 惰性環境中(N, Ar, He) > 3500°C/6332°F
z軸校準:
對HOPG裂片表面凹凸部分的高度沒有進行過校準。然而,晶體表面具有固定的結構,單階高度為0.34nm。由于進行了分裂處理,您會很容易地發現梯級結構。另一種方法是置于烘箱中,通過氧化作用在表面產生蝕刻坑。
高純度- 兩種品牌所有等級的HOPG都具有較高的純度,雜質含量在10ppm級或更低。
化學穩定性:
HOPG對包括四氧化鋨在內的所有化學物質都具有較高的化學穩定性。然而,當其置于SPI Supplies Plasma Prep II等離子蝕刻機產生的氧等離子體中時,HOPG會迅速消失。
導熱性:
由于HOPG各向異性的特點,不同方向上其導熱性也不同。熱導率沿基面方向為1800Wt/C,沿垂直基面方向為8-10Wt/C。任何類型的HOPG,其熱導率都比較高。導熱鱗片與其它HOPG有相同
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